орф.

электронограф, -а

Прибор для исследования атомного строения твёрдых тел и газовых молекул с помощью дифракции электронов (см. Электронография). Э. — вакуумный прибор, его схема аналогична схеме электронных микроскопов (См. Электронный микроскоп).

Прибор для исследования ат. строения тв. тел и газовых молекул методами электронографии. Э.— вакуумный прибор, схема той его части, где формируется электронный пучок, близка к схеме электронного микроскопа. В колонне, осн. узле...

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ -и; ж. [от греч. ēlektron — янтарь и graphō — пишу] Метод изучения структуры

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

метод исследования атомной структуры вещества, гл. обр. кристаллов, основанный

что соответствует длине волны ок. 5∙10−3 нм). Э. проводят в спец. приборах — электронографах, в которых

металлов.

Лит.: Вайнштейн Б. К., Структурная электронография, М., 1956; Высоковольтная электронография

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ — метод исследования строения веществ, основанный на дифракции электронов (см

Дифракция частиц). Методом электронографии определяют атомную структуру кристаллов и аморфных тел, молекул.

Электронография, электронографии, электронографии, электронографий, электронографии электронографиям, электронографию, электронографии, электронографией, электронографиею, электронографиями, электронографии, электронографиях

атомов, максимумы к-рого отвечают положениям ат. ядер.

В электронографах и электронных микроскопах

-и, ж.

Метод изучения структуры вещества, основанный на рассеянии ускоренных электронов исследуемым образцом.

[От греч. ’ήλεκτρον — янтарь и γράφω — пишу]

проводятся в специальных приборах — Электронографах и электронных микроскопах (См. Электронный микроскоп

светосильного пучка в электронографе, экспозиция для получения электронограмм обычно составляет около

К., Структурная электронография, М., 1956; Звягин Б. Б., Электронография и структурная кристаллография

орф.

электронография, -и

Электр/он/о/гра́ф/и/я [й/а].

Изучение атомной структуры молекул методом электронографии (См. Электронография). Э. м. в газах

и парах, а также электронография молекулярных кристаллов, аморфных тел и жидкостей позволила получить

см. РЕНТГЕНОВСКИЙ СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, НЕЙТРОНОГРАФИЯ, ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ).

анализ, Рентгенография материалов, Нейтронография, Электронография, протонография (см. Теней эффект) и др.

Проводят методами электронной микроскопии (в сочетании с рентгеновским спектральным анализом) — электронографии, масс-спектрометрии вторичных ионов и др.

электронографии исследовал строение циклогексана и его производных. Нобелевская премия (1969, совместно с Д. Бартоном).

с 1976). Труды по теории рентгено- и электронографии, структурному анализу кристаллов, строению

электронографии установил пространственное строение циклогексана и его производных. Нобелевская премия (1969, совместно с Д. Бартоном).

иностранный член АН СССР (1966). Труды по коллоидной химии и электронографии. Разработал методы

и роста кристаллов. Здесь разработаны принципы структурной электронографии, предложены методы изучения

рассеивающего объекта. На дифракции частиц основаны электронография и нейтронография.

Молекулярное строение вещества устанавливается рентгеноструктурным анализом, электронографией, масс

электронографии, нейтронографии. Ее развитие связано с именами М. Лауэ, У. Г. Брэгга и У. Л. Брэгга, Л. Полинга, Н. В. Белова, А. В. Шубникова и др.

электронографию (1954), расшифровал ряд неорганических и органических структур, впервые определил

Структурная электронография. — М., Изд-во АН СССР, 1956; Дифракция рентгеновских лучей на цепных

электронографии и ее теоретических основ (1950). Определил положение водородных атомов в ряде кристаллов

рентгено- и электронографии, структурному анализу кристаллов, строению биологических кристаллов

структурной электронографии (См. Электронография) и разработал его теоретические основы. Впервые определил

соединений. Награжден орденом Трудового Красного Знамени.

Соч.: Структурная электронография, М

и. используются также в рентгенографии, электронографии и нейтронографии для обозначения пучков

фононов и др. квазичастиц (см. ДИФРАКЦИЯ МИКРОЧАСТИЦ, ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ, НЕЙТРОНОГРАФИЯ, РЕНТГЕНОВСКИЙ СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ).

 Джермера) дифракцию электронов. Труды по теории рассеяния, электронографии и др. Нобелевская премия (1937; совместно с Дэвиссоном).

как рентгеновский структурный анализ, нейтронография, электронография, микроволновая спектроскопия

в кристаллической решётке (см. Рентгеновский структурный анализ. Электронография, Нейтронография).

сплавов и защитных слоев методами электронографии, взаимодействие нуклонов низких и средних энергий

электронографии (См. Электронография).

В элементарной ячейке К. р. может размещаться от одного (для химических

электронографы).

В 40—50-х годах исследовал промежуточное состояние сверхпроводников и свойств тонких

операций путем замораживания тканей, счетчик квантов света, иконоскоп, электронограф и др.). Выпускник

модификации выявляются методами рентгенографии и электронографии и различаются по нек-рым свойствам

структурной электронографии, развитие теории рассеяния рентгеновских лучей и электронов в кристаллах

исследования (рентгеновский структурный анализ, электронография, нейтронография) позволяют

Рентгеноструктурный анализ), электронографии (См. Электронография), нейтронографии (См. Нейтронография

структурный анализ, электронография и нейтронография), а также микроволновая спектроскопия. Качеств

рентгеновский структурный анализ (РСА) и газовую электронографию. Первый используют для определения строения

микроскопия, электронография, рентгенография и др. методы лабораторных исследований.

В СССР исследования

электронная микроскопия, электронография, рентгенография и др. современные методы исследования

используются в рентгеновском структурном анализе, электронографии и нейтронографии. Числ. значение А. ф

кристалла дифракц. методами (см. РЕНТГЕНОВСКИЙ СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ, НЕЙТРОНОГРАФИЯ

электронографией и рентгеновским структурным анализом, надежность и точность определения геом. характеристик

медленных эл-нов (см. ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ), что даёт возможность не только исследовать элементный состав

взаимодействиями. Дифракционные методы исследования (Рентгеновский структурный анализ, Электронография

структурного анализа (а впоследствии — методами электронографии и нейтронографии) были изучены

рентгеновского структурного анализа, электронографии, нейтронографии, опирающимися на теорию дифракции

исчисление. K традиционным методам структурной K. (рентгеноструктурный анализ, электронография

и таких их аналогов, как силилены и гермилены, используют электронографию. Триплетные К. широко

электронографию, нейтронографию и мёссбауэрографию (см. ниже). Во всех случаях первичный, чаще

в рентгеновском фазовом анализе) и др. Электронография как метод изучения структуры кристаллов

электронография широко применяется для исследования тонкодисперсных объектов, а также для изучения разного рода

молекулы. Приведенное выражение для I(s) лежит в основе газовой электронографии — метода изучения

электронов (см. ДИФРАКЦИЯ МИКРОЧАСТИЦ, ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ) на крист. решётке. При этом дополнительно учитываются

методами микродифракции, т. е. электронографии локальных участков объекта; методами рентг

такие свойства металлов, как теплоёмкость и электропроводность. Методы электронографии (См

Электронография), рентгенографии (См. Рентгенография материалов) и нейтронографии (См. Нейтронография

использовать физ. методы, прежде всего рентгеновский фазовый анализ, электронографию, а также электронно

понятия и методы интерпретации эксперим. данных в молекулярной спектроскопии, электронографии

см. Рентгеновский структурный анализ, Электронография, Нейтронография). Из-за малой величины длины

Эти же вопросы решают Рентгено-структурный анализ и электронография. Для диагностики микровключений

дифракционные методы исследования, гл. обр. рентгеновский структурный анализ, электронография

электронов, Л. впервые успешно использовал в сконструированном им электронографе фокусирующие свойства

вместе с рентгеновским структурным анализом (См. Рентгеновский структурный анализ) и электронографией (См

Электронография)). Геометрическая теория дифракции всех трёх излучений — рентгеновских лучей

атомной структуры вещества — Электронография и Нейтронография.

Лит.: Блохинцев Д. И., Основы квантовой

Вайнштейн Б. К., Структурная электронография, М., 1956; Бэкон Дж., Дифракция нейтронов, пер. с англ., М

Нейтронография) и электронографией (См. Электронография) является дифракционным структурным методом

К., Структурная электронография, М., 1956; Бэкон Дж., Дифракция нейтронов, пер. с англ., М., 1957

исследуется методами микродифракции, т. е. электронографии (См. Электронография) локальных участков объекта

структурный анализ), электронографии (См. Электронография) или нейтронографии (См. Нейтронография

рентгенографии, электронографии, спектроскопии ЯМР. Электронная микроскопия в сочетании с электронографией

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ, НЕЙТРОНОГРАФИЯ), на классич. и квант. теориях хим. связи, на расчётах энергии крист

Электронография и Нейтронография, с помощью которых определяют абсолютные величины межатомных

восприимчивости, электронография и ионография, нейтронография и нейтроно-спектроскопические методы

комбинац. рассеяния, микроволновой, УФ, ЯМР, ЭПР, а также методы газовой электронографии

нейтронографии и электронографии кристаллов), частоты колебаний — методами спектроскопии (ИК, комбинац

Рентгеновский структурный анализ, исследования методами электронографии (См. Электронография) и пр. Ускоряющее

структурный анализ) и электронографии (См. Электронография), а также нейтронографии (См. Нейтронография

стала одним из осн. методов изучения структуры в-ва (см. ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ, НЕЙТРОНОГРАФИЯ).

спектроскопия наряду с газовой электронографией — осн. метод изучения геометрии молекул. Все шире

влияние на развитие экспериментальной техники электронографии.

Соч.: The atom, 5 ed., L.—N. Y

с веществом в разл. диапазонах длин волн, фото- и рентгеноэлектронная спектроскопия, электронография

анализ, электронография, нейтронография) позволяют определить расположение атомов в элем. ячейке

см. Рентгеновский структурный анализ, Электронная микроскопия, Нейтронография, Электронография и др

при исследовании строения вещества (ядерная Ф., электронография, нейтронография, протонография

структурного анализа К. (Рентгеноструктурный анализ, Электронография, Нейтронография) позволяют определить

анализировать кристаллич. формы орг. соед., проводят с помощью рентгенографии и электронографии

дифракции эл-нов (см. ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ) и микроволновых спектров. Эти исследования дают точность

также электронография). В сочетании с непосредственными наблюдениями кристаллич. решеток

газовая электронография, ЯМР и др.) позволяют определять точечную группу симметрии и параметры

Электронография, нейтронография и рентгеновский структурный анализ позволяют получать непосредств. информацию

о структуре М. Электронографии, метод, исследующий рассеяние электронов на пучке М. в газовой фазе

1. 
   электронограф
   
   • elektronograf
   
   Русско-чешский словарь
   

   ---

   
   


2. 
   электронограф
   
   Electron-diffraction
   
   Полный русско-английский словарь
   

   ---

   
   


3. 
   электронография
   
   • elektronografie
   
   Русско-чешский словарь
   

   ---

   
   


4. 
   электронография
   
   Физ. electronography
   
   Полный русско-английский словарь
   

   ---

   
   


5. 
   метод электронографии
   
   Electron-diffraction method
   
   Полный русско-английский словарь
   

   ---

   
   


6. 
   elektronograf
   
   • электронограф
   
   
   
   Чешско-русский словарь
   

   ---

   
   


7. 
   elektronografie
   
   • электронография
   
   
   
   Чешско-русский словарь
   

   ---

   
   


8. 
   electronography
   
   физическое) электронография
   
   
   
   Полный англо-русский словарь
   

   ---

   
   


9. 
   electrm diffraction analysis
   
   Электронно-графический анализ, электронография
   
   
   
   Полный англо-русский словарь
   

   ---