ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ — метод исследования строения веществ, основанный на дифракции электронов (см. Дифракция частиц). Методом электронографии определяют атомную структуру кристаллов и аморфных тел, молекул.

Электронография, электронографии, электронографии, электронографий, электронографии, электронографиям, электронографию, электронографии, электронографией, электронографиею, электронографиями, электронографии, электронографиях

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ -и; ж. [от греч. ēlektron — янтарь и graphō — пишу] Метод изучения структуры вещества, основанный на рассеянии ускоренных электронов исследуемым образцом.

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

метод исследования атомной структуры вещества, гл. обр. кристаллов, основанный на дифракции электронов (см. дифракционные методы). Существует неск. вариантов метода. Основным является...

Метод изучения структуры в-ва, основанный на исследовании рассеяния образцом ускоренных эл-нов. Применяется для изучения ат. структуры кристаллов, аморфных тел и жидкостей, молекул газов и паров. Физ. основа Э.— дифракция эл-нов (см.

-и, ж.

Метод изучения структуры вещества, основанный на рассеянии ускоренных электронов исследуемым образцом.

[От греч. ’ήλεκτρον — янтарь и γράφω — пишу]

(от Электрон и ...графия

метод изучения структуры вещества, основанный на рассеянии ускоренных электронов исследуемым образцом. Применяется для изучения атомной структуры кристаллов, аморфных тел и жидкостей, молекул в газах и парах. Физическая основа...

орф.

электронография, -и

Электр/он/о/гра́ф/и/я [й/а].

орф.

электронограф, -а

электронов (см. Электронография). Э. — вакуумный прибор, его схема аналогична схеме электронных микроскопов

мм рт. ст.

Лит.: Кушнир Ю. М., Алексеев Н. В., Левкин Н. П., Современные электронографы, «Приборы

метод исследования атомной структуры поверхностей, «Кристаллография», 1967, т. 12, в. 6. См. также лит. к ст. Электронография.

Р. М. Имамов.

Прибор для исследования ат. строения тв. тел и газовых молекул методами электронографии. Э

Изучение атомной структуры молекул методом электронографии (См. Электронография). Э. м. в газах

и парах, а также электронография молекулярных кристаллов, аморфных тел и жидкостей позволила получить

см. РЕНТГЕНОВСКИЙ СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, НЕЙТРОНОГРАФИЯ, ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ).

анализ, Рентгенография материалов, Нейтронография, Электронография, протонография (см. Теней эффект) и др.

Проводят методами электронной микроскопии (в сочетании с рентгеновским спектральным анализом) — электронографии, масс-спектрометрии вторичных ионов и др.

электронографии исследовал строение циклогексана и его производных. Нобелевская премия (1969, совместно с Д. Бартоном).

с 1976). Труды по теории рентгено- и электронографии, структурному анализу кристаллов, строению

электронографии установил пространственное строение циклогексана и его производных. Нобелевская премия (1969, совместно с Д. Бартоном).

иностранный член АН СССР (1966). Труды по коллоидной химии и электронографии. Разработал методы

и роста кристаллов. Здесь разработаны принципы структурной электронографии, предложены методы изучения

рассеивающего объекта. На дифракции частиц основаны электронография и нейтронография.

Молекулярное строение вещества устанавливается рентгеноструктурным анализом, электронографией, масс

электронографии, нейтронографии. Ее развитие связано с именами М. Лауэ, У. Г. Брэгга и У. Л. Брэгга, Л. Полинга, Н. В. Белова, А. В. Шубникова и др.

электронографию (1954), расшифровал ряд неорганических и органических структур, впервые определил

Структурная электронография. — М., Изд-во АН СССР, 1956; Дифракция рентгеновских лучей на цепных

электронографии и ее теоретических основ (1950). Определил положение водородных атомов в ряде кристаллов

рентгено- и электронографии, структурному анализу кристаллов, строению биологических кристаллов

структурной электронографии (См. Электронография) и разработал его теоретические основы. Впервые определил

соединений. Награжден орденом Трудового Красного Знамени.

Соч.: Структурная электронография, М

и. используются также в рентгенографии, электронографии и нейтронографии для обозначения пучков

фононов и др. квазичастиц (см. ДИФРАКЦИЯ МИКРОЧАСТИЦ, ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ, НЕЙТРОНОГРАФИЯ, РЕНТГЕНОВСКИЙ СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ).

 Джермера) дифракцию электронов. Труды по теории рассеяния, электронографии и др. Нобелевская премия (1937; совместно с Дэвиссоном).

как рентгеновский структурный анализ, нейтронография, электронография, микроволновая спектроскопия

в кристаллической решётке (см. Рентгеновский структурный анализ. Электронография, Нейтронография).

сплавов и защитных слоев методами электронографии, взаимодействие нуклонов низких и средних энергий

электронографии (См. Электронография).

В элементарной ячейке К. р. может размещаться от одного (для химических

электронографы).

В 40—50-х годах исследовал промежуточное состояние сверхпроводников и свойств тонких

операций путем замораживания тканей, счетчик квантов света, иконоскоп, электронограф и др.). Выпускник

модификации выявляются методами рентгенографии и электронографии и различаются по нек-рым свойствам

структурной электронографии, развитие теории рассеяния рентгеновских лучей и электронов в кристаллах

исследования (рентгеновский структурный анализ, электронография, нейтронография) позволяют

Рентгеноструктурный анализ), электронографии (См. Электронография), нейтронографии (См. Нейтронография

структурный анализ, электронография и нейтронография), а также микроволновая спектроскопия. Качеств

рентгеновский структурный анализ (РСА) и газовую электронографию. Первый используют для определения строения

микроскопия, электронография, рентгенография и др. методы лабораторных исследований.

В СССР исследования

электронная микроскопия, электронография, рентгенография и др. современные методы исследования

используются в рентгеновском структурном анализе, электронографии и нейтронографии. Числ. значение А. ф

кристалла дифракц. методами (см. РЕНТГЕНОВСКИЙ СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ, НЕЙТРОНОГРАФИЯ

электронографией и рентгеновским структурным анализом, надежность и точность определения геом. характеристик

медленных эл-нов (см. ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ), что даёт возможность не только исследовать элементный состав

взаимодействиями. Дифракционные методы исследования (Рентгеновский структурный анализ, Электронография

структурного анализа (а впоследствии — методами электронографии и нейтронографии) были изучены

рентгеновского структурного анализа, электронографии, нейтронографии, опирающимися на теорию дифракции

исчисление. K традиционным методам структурной K. (рентгеноструктурный анализ, электронография

и таких их аналогов, как силилены и гермилены, используют электронографию. Триплетные К. широко

электронографию, нейтронографию и мёссбауэрографию (см. ниже). Во всех случаях первичный, чаще

в рентгеновском фазовом анализе) и др. Электронография как метод изучения структуры кристаллов

электронография широко применяется для исследования тонкодисперсных объектов, а также для изучения разного рода

молекулы. Приведенное выражение для I(s) лежит в основе газовой электронографии — метода изучения

электронов (см. ДИФРАКЦИЯ МИКРОЧАСТИЦ, ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ) на крист. решётке. При этом дополнительно учитываются

методами микродифракции, т. е. электронографии локальных участков объекта; методами рентг

такие свойства металлов, как теплоёмкость и электропроводность. Методы электронографии (См

Электронография), рентгенографии (См. Рентгенография материалов) и нейтронографии (См. Нейтронография

использовать физ. методы, прежде всего рентгеновский фазовый анализ, электронографию, а также электронно

понятия и методы интерпретации эксперим. данных в молекулярной спектроскопии, электронографии

см. Рентгеновский структурный анализ, Электронография, Нейтронография). Из-за малой величины длины

Эти же вопросы решают Рентгено-структурный анализ и электронография. Для диагностики микровключений

дифракционные методы исследования, гл. обр. рентгеновский структурный анализ, электронография

электронов, Л. впервые успешно использовал в сконструированном им электронографе фокусирующие свойства

вместе с рентгеновским структурным анализом (См. Рентгеновский структурный анализ) и электронографией (См

Электронография)). Геометрическая теория дифракции всех трёх излучений — рентгеновских лучей

атомной структуры вещества — Электронография и Нейтронография.

Лит.: Блохинцев Д. И., Основы квантовой

Вайнштейн Б. К., Структурная электронография, М., 1956; Бэкон Дж., Дифракция нейтронов, пер. с англ., М

Нейтронография) и электронографией (См. Электронография) является дифракционным структурным методом

К., Структурная электронография, М., 1956; Бэкон Дж., Дифракция нейтронов, пер. с англ., М., 1957

исследуется методами микродифракции, т. е. электронографии (См. Электронография) локальных участков объекта

структурный анализ), электронографии (См. Электронография) или нейтронографии (См. Нейтронография

рентгенографии, электронографии, спектроскопии ЯМР. Электронная микроскопия в сочетании с электронографией

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ, НЕЙТРОНОГРАФИЯ), на классич. и квант. теориях хим. связи, на расчётах энергии крист

Электронография и Нейтронография, с помощью которых определяют абсолютные величины межатомных

восприимчивости, электронография и ионография, нейтронография и нейтроно-спектроскопические методы

комбинац. рассеяния, микроволновой, УФ, ЯМР, ЭПР, а также методы газовой электронографии

нейтронографии и электронографии кристаллов), частоты колебаний — методами спектроскопии (ИК, комбинац

Рентгеновский структурный анализ, исследования методами электронографии (См. Электронография) и пр. Ускоряющее

структурный анализ) и электронографии (См. Электронография), а также нейтронографии (См. Нейтронография

стала одним из осн. методов изучения структуры в-ва (см. ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ, НЕЙТРОНОГРАФИЯ).

спектроскопия наряду с газовой электронографией — осн. метод изучения геометрии молекул. Все шире

влияние на развитие экспериментальной техники электронографии.

Соч.: The atom, 5 ed., L.—N. Y

с веществом в разл. диапазонах длин волн, фото- и рентгеноэлектронная спектроскопия, электронография

анализ, электронография, нейтронография) позволяют определить расположение атомов в элем. ячейке

см. Рентгеновский структурный анализ, Электронная микроскопия, Нейтронография, Электронография и др

при исследовании строения вещества (ядерная Ф., электронография, нейтронография, протонография

структурного анализа К. (Рентгеноструктурный анализ, Электронография, Нейтронография) позволяют определить

анализировать кристаллич. формы орг. соед., проводят с помощью рентгенографии и электронографии

дифракции эл-нов (см. ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ) и микроволновых спектров. Эти исследования дают точность

также электронография). В сочетании с непосредственными наблюдениями кристаллич. решеток

газовая электронография, ЯМР и др.) позволяют определять точечную группу симметрии и параметры

Электронография, нейтронография и рентгеновский структурный анализ позволяют получать непосредств. информацию

о структуре М. Электронографии, метод, исследующий рассеяние электронов на пучке М. в газовой фазе

на анализируемом объекте рентгеновского излучения. Р. с. а. наряду с нейтронограф

1. 
   электронография
   
   • elektronografie
   
   Русско-чешский словарь
   

   ---

   
   


2. 
   электронография
   
   Физ. electronography
   
   Полный русско-английский словарь
   

   ---

   
   


3. 
   электронограф
   
   • elektronograf
   
   Русско-чешский словарь
   

   ---

   
   


4. 
   электронограф
   
   Electron-diffraction
   
   Полный русско-английский словарь
   

   ---

   
   


5. 
   метод электронографии
   
   Electron-diffraction method
   
   Полный русско-английский словарь
   

   ---

   
   


6. 
   elektronograf
   
   • электронограф
   
   
   
   Чешско-русский словарь
   

   ---

   
   


7. 
   elektronografie
   
   • электронография
   
   
   
   Чешско-русский словарь
   

   ---

   
   


8. 
   electronography
   
   физическое) электронография
   
   
   
   Полный англо-русский словарь
   

   ---

   
   


9. 
   electrm diffraction analysis
   
   Электронно-графический анализ, электронография
   
   
   
   Полный англо-русский словарь
   

   ---