орф.

поликристалл, -а

Поли/криста́лл/.

сущ., кол-во синонимов: 1 кристалл 17

Агрегат мелких монокристаллов разл. ориентации (крист. зёрен). Большинство тв. тел (минералы, металлы, сплавы, керамики и др.) имеют поликрист. строение. Св-ва П. обусловлены ср. размером зёрен (от 1— 2•10-6 м до неск.

Агрегат мелких кристаллов (См. Кристаллы) какого-либо вещества, иногда называемых из-за неправильной формы кристаллитами или кристаллическими зёрнами. Многие материалы естественного и искусственного происхождения (Минералы, Металлы, Сплавы, керамики (См.

-а, м.

Твердое вещество, состоящее из множества мелких кристаллов неправильной формы.

ПОЛИКРИСТАЛЛ -а; м. Твёрдое вещество, состоящее из множества мелких кристаллов неправильной формы.

ПОЛИКРИСТАЛЛЫ (от поли... и кристаллы) — агрегаты из большого числа маленьких кристаллических зерен

ПОЛИКРИСТАЛЛЫ, см. кристаллы.

Рентгенограмма поликристалла, снятая по методу Дебая — Шеррера (См. Дебая — Шеррера метод)

в поликристаллах или молекул в аморфных телах, приводящая к анизотропии свойств материалов.

РЕКРИСТАЛЛИЗАЦИЯ — процесс роста одних кристаллических зерен поликристалла за счет других

МОНОКРИСТАЛЛ (от моно... и кристалл) — отдельный кристалл с непрерывной кристаллической решеткой. От монокристалла отличают поликристаллы.

слитках, горных породах. минералах, поликрист. образованиях и др. (см. ПОЛИКРИСТАЛЛ).

в различных поликристаллических образованиях: металлических слитках, горных породах, минералах и т. п. (см. Поликристаллы).

напр. поливакцина, поливитамины, полиметаллы, поликристалл.

телах (стеклах, поликристаллах) под действием механических нагрузок. Фотоупругость называют

макрокристалл 1 метакристалл 1 микрокристалл 1 микролит 4 монокристалл 3 периморфоза 3 поликристалл 1 рафид 1 реберник 1 сферокристалл 1 хрусталь 7

Большинство природных и технических твердых материалов являются поликристаллами, одиночные кристаллы называются монокристаллами.

Поликристаллы обычно изотропны в отношении всех свойств, если рассматривать их свойства в объёме, значительно большем, чем величина зерна.

М. П. Шаскольская.

от их назначения (камеры для исследования монокристаллов, поликристаллов, для рентг. топографии

поликристаллов: а — дебаевская камера; б — фокусирующая камера с изогнутым кристаллом — монохроматором

оси гониометрич. головки.

В Р. к. для исследования поликристаллов (рис. 2) применяют

кристаллиты в поликристаллах), а также на неровных и неоднородных границах среды.

3) Поглощением звука

поликристалла за счёт менее совершенных зёрен той же фазы. Скорость Р. экспоненциально возрастает

в поликристаллах или молекул в аморфных телах, жидких кристаллах, полимерах, приводящая к анизотропии св

к. для исследования монокристаллов, поликристаллов, Р. к. для получения малоугловых рентгенограмм, Р

образца и кассеты используют с различной целью. При вращении поликристаллов увеличивается число

от нежелательных воздействий.

Р. к. для исследования поликристаллов и монокристаллов существенно различны

Для исследования поликристаллов можно использовать параллельный первичный пучок (дебаевские Р. к.; рис. 2

вращения камеры.



Рис. 2. Основные схемы рентгеновских камер для исследования поликристаллов

лучей (См. Дифракция рентгеновских лучей) (метод поликристалла). Назван по имени П. Дебая (См. Дебай

с поликристаллов фотоплёнка располагается по поверхности цилиндра, ось которого перпендикулярна

Поликристалла за счёт других той же фазы. Скорость Р. резко (экспоненциально) возрастает с повышением

свойств моно- и поликристаллов. Предсказал существование и впервые создал пьезоэлектрические

кристаллов (См. Кристаллы)) в Поликристаллах или молекул в твёрдых аморфных телах (жидких кристаллах (См

тел, пластичности и прочности металлич. моно- и поликристаллов, изучению механизма кристаллизации

закономерно расположенными пятнами (рефлексами), от поликристаллов (дебаеграммы) — системой концентрич

– кристаллических осколков (кристаллитов) либо моно – или поликристаллов, острые края которых являются

упругости материала), в несколько раз превосходящая прочность массивных моно- и поликристаллов (рис

поликристалл), может иметь приблизительно равные размеры по высоте, ширине и толщине (изометрич. форма

от их структуры: характера кристаллической решётки (моно- или поликристалл), наличия примесей, дислокаций

пространстве для моно- и поликристаллов; экспериментально доказана широкая распространенность существования

из микрокристаллов (поликристаллов, текстур, керамик), а также в-в с ат. упорядоченностью, близкой

односторонних напряжений. В поликристаллах, при наличии в них текстуры магнитной или текстуры кристаллографической, также проявляется М. а.

возникает при наложении на образец внешних односторонних напряжений. В поликристаллах, при наличии

буферными свойствами.

Химическое Т. применяют в технологии монокристаллов, стекол и поликристаллов

монокристалл или агрегат, состоящий из множества мелких кристаллов (поликристалл). Режущая кромка зерна

обр. скольжения дислокаций, а в случае поликристаллов — путем скольжения по границам зерен. Течение

относительно большого размера (монокристаллы объемом > 1 мм3, поликристаллы > 1 см3). Интенсивность

ствием между зёрнами. Деформация поликристалла есть суммарный результат деформации во многих различно

к их высокой пластичности, проявляющейся в специфич. механизме высокотемпературной деформации поликристаллов

»).

В поликристаллах действие рассмотренных механизмов пластической деформации внутри зёрен осложнено

взаимодействием между зёрнами. Деформация поликристалла есть суммарный результат деформации во многих

высокотемпературной деформации поликристаллов — «проскальзывании» по границам зёрен. Перемещение зёрен друг

и свойства разнообразных агрегатов из микрокристаллов — Поликристаллов, текстур (См. Текстура), керамик

Приведённая теория справедлива для изотропного проводника (в частности, для Поликристалла), у которого m

жидкость.

Изотропия свойств характерна так же для поликристаллического состояния (см. Поликристаллы

анализу поликристаллов, М., 1961; Гиллер Я. Л., Таблицы межолоскостных расстояний, т. 1–2, М., 1966; ASTM Diffraction data file, PhiL, 1969.

В. Д. Крылов

дислокаций, а совокупность таких сеток образует в поликристаллах границы зёрен; на этих границах

с использованием И. п. привели к радикальному пересмотру представлений о границах зёрен в поликристаллах

разл. состава, моно- и поликристаллов труднорастворимых в воде солей. Селективность кристаллич. И. э

освещаемого монохроматическим рентгеновским излучением (λ — постоянно), либо от поликристалла

от кристаллич. состояния в-ва (в монокристаллах П. з. обычно меньше, чем в поликристаллах), от наличия

чем в поликристаллах), от наличия дефектов, примесей и дислокаций (См. Дислокации), от предварительной обработки

справедливо для изотропных проводников, в частности для поликристаллов. Для анизотропных кристаллов R=r/en

Образцы представляют собой мозаичный монокристалл, текстуру или поликристалл.



Рис. 1

в поликристалле.

Фазовые превращения. Р. м. применяют для исследования изменений в пересыщенном твёрдом

от блочного поликристалла в область малых углов ε от первичного пучка I.



Рис. 3. Диффузное рассеяние

быть в виде монокристаллов или поликристаллов. В большинстве областей техники используют

В монокристаллах и текстурир. поликристаллах упругая деформация анизотропна. Т. т. с металлич. типом

поликристаллов (Дебая — Шеррера метод). Металлы, сплавы, кристаллические порошки состоят из множества мелких

Рентгенограмма (дебаеграмма) поликристаллов представляет собой несколько концентрических колец, в каждое

для идентификации соединений (в том числе и в смесях). Р.с.а. поликристаллов позволяет определять фазовый состав

наблюдается магнитный Гистерезис).

Проявления Ф. в монокристаллах и поликристаллах могут существенно

магнитных свойств по разным кристаллографическим направлениям. В поликристаллах с хаотическим

упругое вз-ствие с др. Д. и с примесными атомами, межзёренные границы в поликристаллах, ч-цы др. фазы

некогерентное яд. рассеяние в моно- и поликристаллах позволяет исследовать фононный спектр и динамику отд

рентгенограмм поликристаллов позволяет исследовать сложные структуры с 30–50 атомами в элементарной ячейке

с рядом максимумов и минимумов (рис. 5).

Приводимые для поликристаллов коэффициенты σ, η, r, δ обычно

шпата (См. Исландский шпат), Алмаза, Топаза. От М. отличают Поликристаллы и поликристаллические

и распределении элементов по границам и объёму поликристаллов. В некоторых случаях очень малые примеси

межзёренные границы в Поликристаллах, частицы др. фазы в распадающихся сплавах (См. Сплавы

структурному анализу поликристаллов, М., 1961; Вайнштейн Э. Е., Кахана М. М., Справочные таблицы по рентгеновской спектроскопии, М., 1953.

М. А. Блохин.

кубическая, (100) — ось лёгкого намагничивания).

В поликристаллах с хаотич. распределением ориентации

промышленных С. существует в мелкозернистом (в виде Поликристаллов) состоянии; свойства таких

дефектов (вакансии, дислокации, границы зерен в поликристаллах и т. д.) Р. в т.т. характеризуются

» превращение. Примером такой неравновесной гетерофазной структуры служат Поликристаллы, размер зёрен

материалы, как правило, — Поликристаллы, состоящие из огромного числа мелких монокристаллов

При хаотической ориентации кристаллических зёрен поликристалл можно считать изотропным телом, хотя

каждый кристалл в отдельности анизотропен. В некоторых поликристаллах возникает анизотропия, связанная

поликристаллов

или поликристалл), наличия или отсутствия дефектов и т. п. Явление теплопроводности удобно описывать

жидкостях (См. Жидкость), аморфных твёрдых телах) или псевдоизотропных (поликристаллы) телах свойства

сильно деформированных монокристаллов М. нередко приводит к образованию Поликристаллов с малой

поликристаллов, гетерофазных агрегатов, возникающих вследствие фазовых превращений, или искусственно

монокристаллов, используют монохроматич. излучение. Рентгенограмма поликристаллов (дебаеграмма) представляет

поликристаллов, Новосиб., 1991; Дероум Э., Современные методы ЯМР для химических исследований, пер. с англ., М

телах, пластичности и прочности металлических моно- и поликристаллов, механизма кристаллизации